来源： 《Nature》
D-Wave团队开发出一种可在500纳秒内完成纠缠的受控-Z门，该门能将大多数错误标记为“光子丢失”（擦除错误）而非隐藏故障。实验显示，约0.5%操作产生可标记错误，隐藏错误低于0.1%，比特翻转错误仅约百万分之一。该设计避免了此前双量子比特连接时破坏错误检测能力的难题，有望构建更大规模、更高效纠错的量子计算系统。
来源： 《Nature》
D-Wave团队开发出一种可在500纳秒内完成纠缠的受控-Z门，该门能将大多数错误标记为“光子丢失”（擦除错误）而非隐藏故障。实验显示，约0.5%操作产生可标记错误，隐藏错误低于0.1%，比特翻转错误仅约百万分之一。该设计避免了此前双量子比特连接时破坏错误检测能力的难题，有望构建更大规模、更高效纠错的量子计算系统。