中国科学家首次实现原子级热流观测，突破电子器件散热瓶颈

来源：《自然》

北京大学团队利用电子显微镜技术，创新性地通过电子能量损失谱实现了原子级热流观测。研究在氮化铝/碳化硅界面发现2纳米范围内存在10-20K的剧烈温变，界面热阻达本体材料的30-70倍，并首次捕捉到非平衡态声子分布。该技术为芯片、量子器件等纳米级热管理提供新工具，有望解决电子器件过热难题。未来将拓展至更复杂材料体系的研究。