来源:《IEEE光伏杂志》
新南威尔士大学团队开发高精度模型,绘制全球光伏组件紫外线暴露地图。研究发现,在紫外线高剂量地区,仅紫外降解就占单晶硅组件年总衰减的近四分之一,可能使系统寿命缩短7–10年。使用跟踪系统的组件因始终正对太阳,紫外暴露更严重。当前国际测试标准(15 kWh/m²)在某些地区仅相当于一个多月的实际暴露量,亟需修订。
来源:《IEEE光伏杂志》
新南威尔士大学团队开发高精度模型,绘制全球光伏组件紫外线暴露地图。研究发现,在紫外线高剂量地区,仅紫外降解就占单晶硅组件年总衰减的近四分之一,可能使系统寿命缩短7–10年。使用跟踪系统的组件因始终正对太阳,紫外暴露更严重。当前国际测试标准(15 kWh/m²)在某些地区仅相当于一个多月的实际暴露量,亟需修订。